計測機器、検査･製造装置

製品一覧

ハードディスク検査製造装置
ディスクチッピング検査装置 ディスクチッピング検査装置
  • ＣＣＤカメラで取り込んだ画像解析により、ガラス基板、メディアの表面、エッジ部のチッピング、汚れ、等を、高速・高精度に検出する量産ライン検査装置です。
ヘッド/ディスク浮上特性評価装置 ヘッド/ディスク浮上特性評価装置
  • 実機ドライブに近い環境下でテストが可能
  • 最大８台のスピンスタンドを同時駆動可能
  • 最大8台の自動テスト、自動データ保存機能
ヘッド/ディスク姿勢制御装置 ヘッド/ディスク姿勢制御装置
  • ヘッド/ディスク平行度の計測
  • ヘッドZハイトの計測
  • ディスク・ランアウトの計測も可能
アルミ基板用レーザテクスチャリング装置 アルミ基板用レーザテクスチャリング装置
  • スループット　420PPH　（バンプ配列による）
  • フットプリント　(W) 990 X (D) 1600 X (H) 2000 mm
  • 両面同時加工
  • 両面独立制御（バンプ高さ、バンプ径、加工半径）
ガラス基板形状測定装置
  • 非接触方式による内外径、真円度、同芯度測定
  • 自動キャリブレーション機能
  • 部分計測機能／全周計測機能
自動グライド欠陥分析装置
  • グライド検査
  • 自動欠陥サーチ・欠陥撮影／マーキング機能
MO用ヘッド浮上高テスター
  • 高浮上高計測(１〜５０μm)
ガラス基板用
レーザテクスチャリング装置
  • 製造・量産用
  • 処理能力　最大1000pph
ガラス基板用
レーザテクスチャリング装置
  • 研究開発　試作用
  • 処理能力　最大200pph
グライド検査ｷｬﾘﾌﾞﾚｰｼｮﾝ用
ガラス基板バンプディスク
  • オーダーメイドによる加工サービス
  • レーザテクスチャ加工による安定した形状
三次元計測装置 三次元計測装置
  • 走査型白色干渉法により非接触で三次元形状が可能
  • さまざまなオプション設定で最適な構成をご提供
半導体検査装置
金バンプ高さ検査装置 金バンプ高さ検査装置
  • ウエハ上の金バンプの全数検査／高倍率抜き取り検査
  • 抜群の計測再現性（σ　0.1μｍ）
  • 8インチウエハ1枚の計測時間：約7分
  • 狭ピッチバンプ、低バンプにも対応
バイオ機器
小型マイクロアレイプリンタ
 小型マイクロアレイプリンタ
  • 研究室に最適なコンパクトサイズ
  • 自由度の高いアレイパターン生成
マイクロアレイプリンタ
 マイクロアレイプリンタ
  • トランスフェクションマイクロアレイ製作に最適
  • 非接触式プリント
  • CCDカメラによる位置補正
食品検査装置
ヒビ卵検査装置
 ヒビ卵検査装置
  • 卵に触れることなく画像からひびを判断することで、打痕が残らず、かつ衛生的
  • 小さなひびから大きな割れ、更にピンホールの検出が可能
異常卵検査装置
 異常卵検査装置
  • 血卵検出機能に加え、乱れ卵 (濁卵)、黄身薄卵、無黄卵などの異常卵を検出
  • 検査結果や設定が、わかりやすく使いやすい設定器を採用
血卵検査装置
 血卵検査装置
  • 国内導入実績250台超
  • 分光分析技術による微量血液の非接触検知
  • 有色卵における業界最高レベルの血卵検出性能
  • 単列毎時45000個の高速検出能力