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| ●減圧環境下において、 ヘッド・ディスクI/Fの総合的な信頼性試験を行うことができます。 (ヘッドアームに取り付けたAEセンサ出力をモニタリング) |
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TOPテスト: スピンスタンド内の圧力を変化させ、ヘッドがディスクに接触する圧力を計測 TOHテスト: デイスク回転数を変化させ、ヘッドがディスクに接触する回転数を計測 TOCテスト: DFH電流又はWrite電流を変化させ、ヘッドがディスクに接触する電流値を計測 LTRテスト: スピンドルOn/OffとSeek動作を組み合わせた長期信頼性試験 SAFテスト: 減圧環境下での連続シーク試験 User-Definedテスト: ユーザが任意にテストシーケンス(動作・計測・判定)をプログラミング TOC Cycle テスト: TOCテスト(DFH電流)の長期サイクルテスト(最大100万回) |
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●汎用スピンスタンドとして、以下の制御/計測が可能 < 制御 > (1)回転数制御 (2)減圧制御 (3)DFH電流制御 (4)MRバイアス電流制御 (5)トラック・フォローイング動作 (6)Seek & Load/Unloadセンサ動作 (加速/減速条件可変) |
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< 計測 > (1)気圧 (2)温度 (3)湿度 (4)AEセンサ出力 (5)TA (6)Frictionセンサ出力 (7)MR抵抗変化 (8)ディスク全面のAEセンサ/TA出力マッピング (9)Seek/Load/Unload中のAEセンサ出力、等 |
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■ 実機HDDの部品を使用(VCM、スピンドル、ランプ…) ・実機ドライブに近い環境下でテストが可能 ・コンパクト、高信頼性 & 安価 ■ 高速・高精度な計測&制御 ・圧力制御: 76-760 Torr (精度: +/- 5 torr) ・ディスク回転数: 1000rpm-15000rpm (分解能:1 rpm) ・シーク周波数: 0.0001-20 Hz ・ヘッド位置決め精度: +/- 0.1mm ・DFH電流制御: 0-100mA (最大印加電圧 10V) ■ 拡張性・柔軟性に優れたシステム ・最大8台のスピンスタンドを同時駆動可能。 (それぞれ異なるディスク・サイズでもOK。) ・お客様のご要望に応じて、スピンスタンドをカスタム設計致します。 ■ 操作性に優れたソフトウエア ・最大8台の自動テスト、自動データ保存機能 ・きめ細かで、柔軟性に富んだテストパラメータの設定機能 |
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〒661-0967 兵庫県尼崎市浜1丁目1番1号 TEL:06-6491-0859 FAX:06-6491-0899 ・ メールによるお問い合わせ : info@cp.kubota.co.jp |
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