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計測装置、検査・製造装置
自動グライド欠陥分析装置
自動欠陥検知・マーキング機能付き
グライド欠陥検査装置
これ一台でグライド検査から欠陥サーチまで自動的に実行,歩留り解析作業の
効率化アップに大きく貢献!
●バーニッシュ / グライドテスト
●画像処理による自動欠陥サーチ
●欠陥部の自動撮影とマーキング
自動欠陥検出機能により撮影された欠陥個所の画像例
データ領域
バンプ領域
GDA-2000
Glide Defect Analyzer for Hard Disks
基本仕様
スループット
グライド検査:
15秒以下
グライド検査(ディスクスキャン)時間:
13.6sec
・想定条件
・3.5”ディスク
・測定範囲R=17.78〜42.42mm
・周速 7.62m/s
・ピッチ 0.127mm
・欠陥数 0
欠陥サーチ:1分以下
(30%スライダー使用時)
検出欠陥サイズ
1μm x
1μm
以上
位置決め制度
±
10μm
クボタコンプス 株式会社
〒661-0967 兵庫県尼崎市浜1丁目1番1号
TEL:06-6491-0859 FAX:06-6491-0899
メールによるお問い合わせ :
info@cp.kubota.co.jp