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計測検査装置

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計測検査装置関連ダウンロード

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ハードディスク検査・製造装置半導体検査装置フィルム・シート検査装置バイオ機器食品検査装置

 ■ハードディスク検査・製造装置
ディスクチッピング検査装置 DSiS-2006
ディスクチッピング検査装置 DSiS-2006 (743KB)
  • CCDカメラで取り込んだ画像解析により、ガラス基板、メディアの表面、エッジ部のチッピング、汚れ、等を、高速・高精度に検出する量産ライン検査装置です。
ヘッド/ディスク浮上特性評価装置 HDF-2007
ヘッド/ディスク浮上特性評価装置 HDF-2007 (1,470KB)
  • 実機ドライブに近い環境下でテストが可能
  • 最大8台のスピンスタンドを同時駆動可能
  • 最大8台の自動テスト、自動データ保存機能
ヘッド/ディスク姿勢制御装置 HDA-2005
ヘッド/ディスク姿勢制御装置 HDA-2005 (2,203KB)
  • ヘッド/ディスク平行度の計測
  • ヘッドZハイトの計測
  • ディスク・ランアウトの計測も可能
アルミ基板用レーザテクスチャリング装置 KLT-2006
アルミ基板用レーザテクスチャリング装置 KLT-2006 (1,234KB)
  • スループット 420PPH (バンプ配列による)
  • フットプリント (W) 990 X (D) 1600 X (H) 2000 mm
  • 両面同時加工
  • 両面独立制御(バンプ高さ、バンプ径、加工半径)
自動グライド欠陥分析装置
自動グライド欠陥分析装置 (56KB)
  • グライド検査
  • 自動欠陥サーチ・欠陥撮影/マーキング機能
グライド検査キャリブレーション用ガラス基板バンプディスク
グライド検査キャリブレーション用ガラス基板バンプディスク (92KB)
  • オーダーメイドによる加工サービス
  • レーザテクスチャ加工による安定した形状
三次元計測装置
三次元計測装置 (1,598KB)
  • 走査型白色干渉法により非接触で三次元形状が可能
  • さまざまなオプション設定で最適な構成をご提供
 ■半導体検査装置
金バンプ検査装置 BHT-1000G
金バンプ検査装置 BHT-1000G (2,120KB)
  • ウエハ上の金バンプの全数検査/高倍率抜き取り検査
  • 抜群の計測再現性(σ 0.1μm)
  • 8インチウエハ1枚の計測時間:約7分
  • 狭ピッチバンプ、低バンプにも対応
 ■フィルム・シート検査装置
プラスチックシート欠点検査装置
プラスチックシート欠点検査装置  (726KB)
  • シート上の汚れ、凹み、異物などの欠点を高速・高精度に検出
  • CCDカメラによる画像解析
  • 検査データの記録・管理が可能
プラスチックシート厚さ検査装置
プラスチックシート厚さ検査装置  (839KB)
  • 形成中のシートの厚さを非接触計測
  • SCAN計測で最大120mm/secの高速検査
  • 検査データの記録・管理が可能
  • オンラインでプロセス管理にフィードバック
 ■バイオ機器
マイクロアレイプリンタ KCS-1
マイクロアレイプリンタ KCS-1  (1,824KB)
  • トランスフェクションマイクロアレイ製作に最適
  • 非接触式プリント
  • CCDカメラによる位置補正
マイクロアレイプリンタ KCS-mini
マイクロアレイプリンタ KCS-mini  (1,455KB)
  • 研究室に最適なコンパクトサイズ
  • 自由度の高いアレイパターン生成
 ■食品検査装置
ヒビ卵検査装置 KC-CD-100
ヒビ卵検査装置 KC-CD-100 (686KB)
  • 卵に触れることなく画像からひびを判断することで、打痕が残らず、かつ衛生的
  • 小さなひびから大きな割れ、更にピンホールの検出が可能
異常卵検査装置 AED-X2
異常卵検査装置 AED-X2  (1,164KB)
  • 血卵検出機能に加え、乱れ卵 (濁卵)、黄身薄卵、無黄卵などの異常卵を検出
  • 検査結果や設定が、わかりやすく使いやすい設定器を採用